Diferença entre AFM e STM

AFM vs STM

AFM se refere a Atomic Force Microscope e STM se refere a Scanning Tunneling Microscope. O desenvolvimento desses dois microscópios é considerado uma revolução nos campos atômico e molecular.

Ao falar de AFM, ele captura imagens precisas movendo uma ponta do tamanho de um nanômetro pela superfície da imagem. O STM captura imagens usando tunelamento quântico.

Dos dois microscópios, o Microscópio de Varredura de Tunelamento foi o primeiro a ser desenvolvido.

Ao contrário do STM, a sonda faz contato direto com a superfície ou calcula a ligação química incipiente no AFM. As imagens STM indiretamente calculando o grau de tunelamento quântico entre a sonda e a amostra.

Outra diferença que pode ser observada é que a ponta no AFM toca a superfície suavemente toca a superfície enquanto no STM, a ponta é mantida a uma curta distância da superfície.

Ao contrário do STM, o AFM não mede a corrente de tunelamento, mas mede apenas a pequena força entre a superfície e a ponta.

Também tem fui visto que a resolução AFM é melhor do que o STM. É por isso que o AFM é amplamente utilizado em nanotecnologia. Quando falamos da dependência entre força e distância, o AFM é mais complexo do que o STM.

Quando o Microscópio de Varredura de Tunelamento é normalmente aplicável a condutores, o Microscópio de Força Atômica é aplicável tanto a condutores quanto a isoladores. O AFM se adapta bem a ambientes com líquido e gás, enquanto o STM opera apenas em alto vácuo.

Quando comparado ao STM, o AFM oferece uma medição de altura direta de contraste mais topográfico e melhores características de superfície.

Resumo

1. O AFM captura imagens precisas movendo uma ponta do tamanho de um nanômetro pela superfície da imagem. O STM captura imagens usando tunelamento quântico.

2. A sonda faz contato direto com a superfície ou calcula a ligação química incipiente no AFM. As imagens STM indiretamente calculando o grau de tunelamento quântico entre a sonda e a amostra.

3. A ponta em AFM toca a superfície suavemente toca a superfície enquanto em STM, a ponta é mantida a uma curta distância da superfície.

4. A resolução AFM é melhor do que a STM. É por isso que o AFM é amplamente utilizado em nanotecnologia.

5. Quando o Microscópio de Varredura de Tunelamento é normalmente aplicável a condutores, o Microscópio de Força Atômica é aplicável tanto a condutores quanto a isoladores.

6. O AFM se adapta bem a ambientes com líquido e gás, enquanto o STM opera apenas em alto vácuo.

7. Dos dois microscópios, o Microscópio de Varredura de Tunelamento foi o primeiro a ser desenvolvido.